2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)

　　聲明：本次測試源自B站UP主小飛機DIY，結(jié)果僅供參考，最終解釋權(quán)歸原廠品牌所有!

　　測試時間：2021年10月24日0時起——2022年1月10日止

　　測試型號：金士頓KC2500(非原廠顆粒用于測試對比)、英睿達(dá)P5、鎧俠RD20、西數(shù)SN750、致鈦PC005 Active、三星970EVO PLUS

　　測試容量：1TB

　　測試模式：黑盒測試+白盒測試

　　樣本來源：某東自營隨機性自購

　　測試項目：廠商宣傳PE數(shù)、冷數(shù)據(jù)、IO負(fù)載測試、循環(huán)通斷電測試

　　測試共消耗硬盤：18塊

　　測試時主要涉及的工具/硬件：urwtest(用于讀寫校驗測試)、Anvil Storage(用于模擬用戶日常使用測試)、Oracle11G(用于模擬IO測試)、Pentaho Kettle(IO測試中間件)、加熱臺(模擬冷數(shù)據(jù)測試)、電磁繼電器(用于模擬通斷電)、18650電池、可調(diào)電源、USB線若干、JMS583方案硬盤盒、M.2 NVME轉(zhuǎn)PCI-E硬盤轉(zhuǎn)接卡等

　　測試環(huán)境：華碩Z9PAU8(X79芯片組)+Xeon E5 2650L v2(10C/20T)+三星32G DDR3 REG

　　系統(tǒng)：Windows 10 工作站版(20H2)

　　測試目的：

　　1.驗證原廠顆粒硬盤顆粒壽命是否可達(dá)原廠宣傳標(biāo)準(zhǔn)(主要)

　　2.驗證硬盤上長期未使用的文件固件算法對該數(shù)據(jù)讀取速度的影響(冷數(shù)據(jù))

　　3.驗證硬盤在高負(fù)載情況下表現(xiàn)(IO測試——附加項目)

　　4.驗證在保期間硬盤是否會因斷電導(dǎo)致?lián)p壞(循環(huán)通斷電測試)

　　PS：為保證測試變量一致性，每次測試都是在同一臺機器上同時進(jìn)行的

　　先上一張官方宣傳頁的壽命

　　廢話不多說，先直接看結(jié)果(建議綜合一起看)

　　壽命整體測試結(jié)果：

　　冷數(shù)據(jù)測試結(jié)果：

　　測試參考閃存通的SSD老化對照表

　　計算方式使用閃存通的老化計算器

　　先上未老化前的測試結(jié)果做為對比

　　由于全部硬盤質(zhì)保期為5年，因此直接測試5年老化情況

　　老化數(shù)據(jù)參考小程序閃存通

　　模擬溫度：35度

　　老化溫度：150度

　　分別測試半年、一年、兩年、三年、四年、五年

　　1年模擬后英睿達(dá)P5及金士頓KC2500在老化測試中掉速最嚴(yán)重

　　英睿達(dá)P5在模擬第二年的時候因數(shù)據(jù)校驗不通過而退出測試

　　四年模擬時金士頓因不識別而退出測試

　　5年模擬測試三星、致鈦、西數(shù)、鎧俠存活成功

　　IO測試(子項目)

　　此處采用Oracle11G數(shù)據(jù)庫+Kettle寫入對比基準(zhǔn)線1000W數(shù)據(jù)進(jìn)行測試

　　用于計算IO消耗時間

　　Oracle表空間分別置于每個盤的根目錄內(nèi)

　　默認(rèn)分配存儲塊200M，自動增長、自動擴展表空間開啟

　　Oracle主程序安裝于C盤

　　安裝Oracle 11G途中

　　用于寫入數(shù)據(jù)的中間件 Kettle

　　英睿達(dá)因為在高IO寫入的情況下發(fā)生了掉盤情況，因此IO測試不包含英睿達(dá)P5

　　空盤狀態(tài)下各盤寫入耗時均為37分鐘寫入1000W測試數(shù)據(jù)(英睿達(dá)除外)

　　1~3年模擬情況

　　金士頓KC2500經(jīng)老化測試后耗時暴增，第三年已完全無法測試IO狀況

　　西數(shù)及鎧俠在第二年后開始出現(xiàn)較為明顯的變化幅度，三星及致鈦變化不明顯

　　4~5年模擬情況

　　5年測試下來，西數(shù)和鎧俠IO縮水基本在20%左右

　　三星和致鈦與原始數(shù)據(jù)相比IO縮水控制在10%左右

　　測試視頻：

　　https://www.bilibili.com/video/BV1uF41187QW/

　　循環(huán)通斷電測試(僅供參考)：

　　計算方式：假設(shè)用戶在質(zhì)保每天電腦開關(guān)機次數(shù)2-3次，一年約為1000次，5年下來預(yù)計在6000次左右

　　自制簡易型電磁繼電器用于測試自動通斷電

　　測試過程中：

　　1000次通斷電測試，全部存活

　　值得注意的是僅鎧俠掉了1%的健康度

　　5年模擬通斷電測試

　　1.英睿達(dá)直接直接掉盤

　　2.金士頓因數(shù)據(jù)編譯器損壞導(dǎo)致數(shù)據(jù)無法被讀取

　　3.鎧俠健康掉了15%(看起來鎧俠的健康度還與通斷電次數(shù)掛鉤)

　　三星、鎧俠、西數(shù)、致鈦成功通過5年6000次通斷電模擬測試，數(shù)據(jù)校驗無異常

　　測試視頻：

　　https://www.bilibili.com/video/BV1pL4y147cH/

　　點評(僅個人觀點)

　　鎧俠RD20

　　優(yōu)點：速度較快、價格適中

　　缺點：壽命消耗快，冷數(shù)據(jù)方面稍差

　　西數(shù)SN750

　　優(yōu)點：速度快、IO高、壽命官方符合描述

　　缺點：冷數(shù)據(jù)問題雖然有所緩解，但仍然存在、價格較高、SN550在21年被爆換顆粒門，目前SN750是否會換顆粒，待進(jìn)一步確認(rèn)

　　三星970EVO PLUS

　　優(yōu)點：速度快、IO高、壽命符合官方描述

　　缺點：溫度較高、我的測試過程中炸了一個、售價最高

　　致鈦PC005 Active

　　優(yōu)點：IO高、售價適中、冷數(shù)據(jù)存儲較出色、顆粒壽命符合官方描述甚至有些超預(yù)期

　　缺點：大文件持續(xù)寫入速度稍低

　　金士頓KC2500

　　僅作非原廠顆粒的對比參考，顆�；煊脟�(yán)重，不具備代表性。

　　我買的三條中2條采用閃迪顆粒，1條采用東芝顆粒，均為BICS4制程。聽說還有買到鎂光顆粒的(我暫時沒抽到)。

　　英睿達(dá)P5，全部測試過中陣亡，可能是我臉黑

　　因此，無法評論

　　因英特爾閃存業(yè)務(wù)被海力士收購，近期無新產(chǎn)品因此英特爾不在測試范圍

　　因海力士固態(tài)大多數(shù)應(yīng)用于OEM領(lǐng)域，暫時未發(fā)現(xiàn)零售系列渠道，因此不在測試范圍

　　參考資料：

　　ONFI：http://www.onfi.org/

　　JEDEC：https://www.jedec.org/

　　Mircon：https://www.micron.com/

　　維基百科：https://zh.wikipedia.org/

　　知乎：https://www.zhihu.com/

　　學(xué)術(shù)：

　　https://scholar.google.com